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非接觸三次元量測

非接觸三次元量測正確有效的使用探針來碰觸量測工件,可以避免掉許多量測上不必要的誤差的產生。但是在實際碰觸取點時,至少需保持與垂直面角度在±30°以內。以防止探針打滑而造成量測的重複精度不佳的情況產生。再藉助系統的探針補償來實現數據的準確性。

 


資料來源: 中 時 電 子 報